Verbundprojekt: Eine neue Generation von kompakten Laserscannern zur Inspektion von Pantographen; Teilprojekt: Gepulste mikrointegrierte Diodenlaser in externem Resonator für kompakte Laserscanner

Im Verbundprojekt "New generation of compact pantograph inspection laser scanners" liegt das Kernstück der Arbeiten am FBH in der Entwicklung und Qualifizierung von gepulsten mikrointegrierten Diodenlasern in externem Resonator für kompakte Laserscanner. Dabei werden vornehmlich beidseitig entspiegelte Bauelemente zur Realisierung von External Cavity Lasern als Lichtquellen für den Einsatz in Messsensoren zur Vermessung von Stromabnehmern gefertigt. Für die bereits in derartigen Systemen etablierte Wellenlänge von 808 nm werden Trapezverstärker realisiert. Diese versprechen eine deutlich bessere Strahlqualität als die bisher verwandten Breitstreifenlaser zu erreichen und damit die Ausleuchtung der zu vermessenden Objekte zu homogenisieren. Um den Einfluss der solaren Hintergrundstrahlung zu reduzieren, sollen Breitstreifenlaser und Trapezlaser für 935 nm entwickelt werden, die es erlauben das Signal-zu-Hintergrund Verhältnis deutlich zu verbessern. Weiterhin sollen hybrid integrierte Module für die genannten Wellenlängen realisiert werden, die es erlauben frequenzstabilisierte kompakte Lichtquellen an die Projektpartner zu liefern.