Um neue Testverfahren für Computerchips zu entwickeln, kooperiert die Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur der Universität Bremen unter der Leitung von Professor Rolf Drechsler mit der renommierten Duke University (North Carolina, USA). Die auch als „Harvard des Südens“ bezeichnete Privat-Universität zählt zu den besten Universitäten der Welt.
Laut ADAC Pannenstatistik sind Fehler in der Automobil-Elektronik zur häufigsten Fehlerursache auf deutschen Straßen geworden. Der Test und die Sicherstellung der Korrektheit von Elektronik-Systemen gewinnen daher weiter an Bedeutung. Dies gilt insbesondere, wenn Computerchips sicherheitskritische Aufgaben übernehmen, wie zum Beispiel die Airbag-Steuerung. Ein Versagen des verbauten Chips würde fatale Folgen haben. Um sicherzustellen, dass keine defekten Systeme ausgeliefert werden, wird jeder gefertigte Chip einem Test unterzogen. Die Wichtigkeit dieses Tests wird dadurch deutlich, dass etwa die Hälfte der gesamten Herstellungskosten für den Test ausgegeben wird.
Im Computerchip-Entwurf müssen wir uns allerdings zunehmend mit der Problematik befassen, dass die voranschreitende Fertigungstechnologie im Nanometer-Bereich zu neuartigen Fehlereffekten führt, die von etablierten Verfahren nicht mehr erkannt werden. Zusammen mit der Arbeitsgruppe des Humboldt-Preisträgers Professor Krishnendu Chakrabarty sollen in dem von Dr. Stephan Eggersglüß initiierten und vom Deutschen Akademischen Austausch Dienst (DAAD) geförderten Projekt neue Ansätze zur Generierung von hochwertigen Testmustern zur Erkennung neuartiger Fehlereffekte erforscht werden. Der DAAD fördert hier insbesondere Forschungsaufenthalte des wissenschaftlichen Nachwuchses an der amerikanischen Universität.
Kontakt
Universität Bremen
Fachbereich Mathematik/Informatik
Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur
Dr. Stephan Eggersglüß
Tel.: 0421 - 218 - 63936
E-Mail: segg(at)informatik.uni-bremen.de
Prof. Rolf Drechsler
Tel.: 0421 - 218 - 63932
E-Mail: drechsler(at)uni-bremen.de
