Ein neu gestartetes EU-FP7-Projekt namens „BASTION“ bringt Experten aus ganz Europa zusammen, um sich diesen Herausforderungen zu stellen. Am 30. Januar 2014, trafen sich die beteiligten Wissenschaftler in Tallin, Estland, für das Kickoff-Meeting des Projekts, an dem sich auch die Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL) beteiligt. Das Projekt vereint mehrere europäische Partner aus Industrie und Forschung, darunter ASTER-Technologies, Infineon, die Universität Twente in den Niederlanden, die Universität Lund in Schweden, das Politecnico di Torino aus Italien und die Technische Universität Tallin. Es wird von der in Estland beheimateten Firma Testonica koordiniert.
Ziel des Projektes ist es, effiziente Validierungskonzepte und Werkzeuge zu entwickeln, um auch zukünftig die Testkosten sowie die Anzahl der sogenannten ‚test escapes‘ zu reduzieren. Mit ‚test escapes‘ werden Systeme bezeichnet, deren vollständige Funktionalität trotz positivem Produktionstest nie oder nach kurzer Zeit nicht mehr gegeben ist. Diese Problematik, welche auch als No-Failure-Found (NFF) Problem bekannt ist, verursacht einen jährlichen Schaden von mehreren Milliarden Euro, zum Beispiel aufgrund von notwendigen Analysen und Reparaturen. Das Problem wird durch die beschleunigte Alterung zukünftiger digitaler Systeme intensiviert.
Weiterhin gilt es zukünftig die Testkosten, welche bis zu 50 Prozent der Gesamtkosten eines Systems erreichen können, nicht entsprechend der stark ansteigenden Komplexität elektronischer Systeme anwachsen zu lassen. Aktuell wird eine Verdopplung der Anzahl der Transistoren auf einem Mikrochip in weniger als 18 Monaten erreicht. „Beinhaltete ein Mikrochip 1974 noch 2300 Transistoren so sind auf einer modernen Graphic Processing Unit (GPU) mehr als 7 Milliarden Transistoren integriert“, erklärt Prof. Dr. René Krenz-Baath, Leiter des Studiengangs „Intelligent Systems Design“.
Ziel des Projektes BASTION ist die Entwicklung effizienter Produktionstests für zukünftige digitale Systeme. Beispielsweise ist die Entwicklung neuartiger Fehlermodelle notwendig, um Defekte auf den nur noch wenige Nanometer großen Strukturen auf den Mikrochips zuverlässig zu erkennen. Die von Prof. Krenz-Baath geleitete HSHL-Forschungsgruppe für „System Design und System Verifikation“ erforscht innerhalb diese Projektes effiziente Zugangsmechanismen für die Produktionstests zukünftiger Mikrochips.
Während des ersten Treffens in Tallin koordinierten die Forschungspartner zukünftige Aktivitäten und diskutierten über aktuelle Problematiken und Entwicklungen in diesem Forschungsbereich. Das gesamte Projekt hat eine Laufzeit von drei Jahren und ein Fördervolumen von rund 3,6 Millionen Euro. Es ist das erste EU-Forschungsprojekt an der HSHL.
Über die Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL):
Mit der Entscheidung der nordrhein-westfälischen Landesregierung, eine neue staatliche Fachhochschule in Hamm und Lippstadt aufzubauen, wurde 2009 der Grundstein für eine Hochschule neuen Profils gelegt. Präsident Prof. Dr. Klaus Zeppenfeld und Vizepräsident Karl-Heinz Sandknop haben gemeinsam mit ihrem Team praxiserfahrener Professorinnen und Professoren ein innovatives Studienangebot im Bereich der Ingenieurswissenschaften entwickelt. Derzeit werden zehn Bachelor- sowie drei Masterstudiengänge angeboten, die sich durch ihre interdisziplinäre Ausrichtung, Marktorientierung und hohen Praxisbezug auszeichnen.
http://www.hshl.de
