Projekte: Niederlande

Hier finden Sie eine Übersicht zu laufenden und abgeschlossenen Vorhaben der Projektförderung des BMBF mit Beteiligung der Niederlande. Aufgeführt werden Vorhaben mit einer Laufzeit bis mindestens zum Jahr 2018. Die Projekte werden in chronologischer Reihenfolge angezeigt (neueste zuerst).
Hinweis: Die Liste enthält sowohl Einzelprojekte, als auch Verbundprojekte, die aus mehreren Teilprojekten bestehen. Die Teilprojekte eines Verbundprojektes sind miteinander verlinkt.

Sie können die Projekte nach Start- und Endjahren und nach Fachbereichen filtern. Eine Mehrfachauswahl von Fachbereichen führt dazu, dass durch die Filter Projekte für alle ausgewählten Fachbereiche angezeigt werden („oder“-Auswahl), sie ist nicht auf Kombinationen beschränkt („und“-Auswahl).

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0088

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Zuverlässigkeit von optischen Sensoren am Beispiel eines LiDAR-Detektors

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0089S

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Entwicklung laserbasierter Methoden zur ortsaufgelösten Reinigung und Charakterisierung von Glasträgeroberflächen

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0090T

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Erforschung und Entwicklung neuer Algorithmen, Methoden und Werkzeugen zur Zuverlässigkeitsbestimmung von eingebetteten Verbindungs-Strukturen auf Board und…

Konzipierung, Entwicklung und Validierung von Diagnose-Algorithmen mit Künstlicher Intelligenz (KI), neuen Analyse-Methoden und komplexen Software- und Hardware Lösungen als Prototypen zum verbesserten Assessment der Zuverlässigkeit von…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0091

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Intelligente Sensor-Chips zum online Monitoring elektronischer Baugruppen und Systeme

Elektronische Komponenten und Systeme (ECS) unterliegen aufgrund elektrischer Lastwechsel fortwährend thermischen und mechanischen Beanspruchungen, die zu Schädigungen und Ausfällen führen können. Hahn-Schickard stellt im Projekt smarte integrierte…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0092K

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Verbesserung der Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten und Systeme durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette Chip-Package-Board/System,zu…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0096S

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Neuartige Laser-Controller und -Oberflächenmodifikationssysteme für die Prozessierung dünner Wafer

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0098

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Big-Data-Plattform zur Bewertung und Prognose von Zuverlässigkeit entlang der Wertschöpfungskette in der Halbleiterindustrie

Das Vorhaben hat die Entwicklung einer Big-Data-Plattform zur Bewertung und Prognose von Zuverlässigkeit entlang der Wertschöpfungskette in der Halbleiterindustrie im Fokus. Es ist integraler Bestandteil im ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0099

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Erforschung hochzuverlässiger Aufbau- und Verbindungstechnik und aktive Zustandsüberwachung von Leistungselektroniken in Leiterplattentechnologie

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der…

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Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0100

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Erhöhung der Zuverlässigkeit durch reduzierte Ausfallraten in der gesamten Wertschöpfungskette demonstriert am Beispiel eines XMR-Stromsensormoduls

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten u. Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der…

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