Verbundprojekt: Zuverlässigkeit und Qualität in der Mikroelektronikfertigung durch KI-basierte Fehleranalyse - FA2IR -

Das FA2IR-Projekt erforscht die notwendingen Strukturen von Datenbanken zur Anwendung von Methoden der Künstlichen Intelligenz (KI) in der mikroelektronischen Fehleranalyse (FA). Die neuartigen Methoden werden zu kürzeren Entwicklungszeiten für neue Produkte, einer schnelleren und präziseren Reaktion auf Ausfälle im Feld sowie zu einer verbesserten Zusammenarbeit zwischen den Partnern der Wertschöpfungskette führen. Das Projekt FA4.0 hat zum ersten Mal den Wert der Anwendung von KI-Algorithmen auf FA-Techniken zur Verbesserung ihrer Effizienz und Produktivität bewiesen. Allerdings sind die heute typischen FA-Datenlandschaften für die Anwendung der neuen Methoden ungeeignet. Ziel dieses Projekts ist es, FA-Datenbanken KI-fähig zu machen und verbesserte FA4.0-KI-basierte Methoden zu entwickeln, z.B. für die Analyse von Bild- und Messdaten, Textklassifikation usw. Obwohl KI das Thema verschiedener FA-bezogener Veröffentlichungen ist, ist der Ansatz dieses Projekts in Bezug auf die Datenbanklandschaft aufgrund der Umsetzung des FAIR-Datenprinzips (Findable, Accessible, Interoperable, Reusable) einzigartig. Bosch wird mit den Projektpartnern die geeigneten Datenbankstrukturen erforschen, um FA4.0-KI-basierte Algorithmen effizient und automatisiert anwenden zu können.