Verbundprojekt: Silizium-Leistungselektronik der nächsten Generation für Mobilität, Industrie und Stromnetze der CO2-freien Ära - Power2Power -; Teilvorhaben: Testmethoden und Tests zu Robustheit und Lebensdauer von Si-basierten Leistungshalbleitern der nächsten Generation

Im Teilvorhaben "Testmethoden und Tests zu Robustheit und Lebensdauer von Si-basierten Leistungshalbleitern der nächsten Generation" fokussiert sich die TUC auf die der Untersuchung der Zuverlässigkeit und der Robustheit der zu testenden Bauelemente. Testverfahren werden weiterentwickelt, um Fehlermechanismen zu separieren und in ihrer Wechselwirkung zu erfassen (Task-Leader in AP 6.2.1). Ein großer Teil der Zuverlässigkeitstests zur Absicherung der Reife der neu entwickelten Bauelemente und Systeme werden an der TUC durchgeführt. Robustheit und Überlastfähigkeit werden im Hinblick auf die bei auf niedrige Verluste optimierten Bauelemente neu auftretenden Fehlermechanismen untersucht, die Kurzschlussfestigkeit und Stoßstromfestigkeit wird experimentell und mittels Bauelementsimulation untersucht. Mit den Partnern werden Maßnahmen zur verbesserten Beherrschung von Überlastereignissen erarbeitet.