Verbundprojekt: Zuverlässige Mikroelektronik durch KI-basierte Fehleranalyse – FA4.0 -; Teilvorhaben: KI-gestützte Fehleranalyse auf Basis von Multi-Domänen Simulationen

Ziel dieses Projektes ist es, eine umfassende, weitgehend automatisierte Prozesskette für die Fehlerdiagnose unter Einbeziehung selbstlernender Datenanalyse, Fehlererkennung und -lokalisierung, standardisierter Analyseverfahren und entsprechender –schnittstellen einschließlich zentraler Datenerfassung und -korrelation mit elektrischen Leistungsdaten zu entwickeln. Das wissenschaftliche Arbeitsziel des Teilvorhabens der Universität Stuttgart ist die Erforschung eines neuartigen KI-Fehleranalyseverfahrens, um Fehlerfälle elektronischer Komponenten zu erkennen, auszuwerten und mithilfe von KI-basierten Lernalgorithmen diagnostizieren zu können. Bei dem angestrebten Fehleranalyseverfahren sollen Simulationen von funktionierenden und fehlerhaften Halbleitern die Datengrundlage aus realen Messergebnissen stark erweitern und so die KI-basierte Fehleranalyse ermöglichen.