StartseiteLänderEuropaFrankreichVerbundprojekt: Zuverlässige Mikroelektronik durch KI-basierte Fehleranalyse – FA4.0 -; Teilvorhaben: KI-gestützte Fehleranalyse auf Basis von Multi-Domänen Simulationen

Verbundprojekt: Zuverlässige Mikroelektronik durch KI-basierte Fehleranalyse – FA4.0 -; Teilvorhaben: KI-gestützte Fehleranalyse auf Basis von Multi-Domänen Simulationen

Laufzeit: 01.04.2020 - 30.09.2023 Förderkennzeichen: 16ME0113
Koordinator: Universität Stuttgart - Fakultät 5 Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik - Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik - Institut für Automatisierungstechnik und Softwaresysteme

Ziel dieses Projektes ist es, eine umfassende, weitgehend automatisierte Prozesskette für die Fehlerdiagnose unter Einbeziehung selbstlernender Datenanalyse, Fehlererkennung und -lokalisierung, standardisierter Analyseverfahren und entsprechender –schnittstellen einschließlich zentraler Datenerfassung und -korrelation mit elektrischen Leistungsdaten zu entwickeln. Das wissenschaftliche Arbeitsziel des Teilvorhabens der Universität Stuttgart ist die Erforschung eines neuartigen KI-Fehleranalyseverfahrens, um Fehlerfälle elektronischer Komponenten zu erkennen, auszuwerten und mithilfe von KI-basierten Lernalgorithmen diagnostizieren zu können. Bei dem angestrebten Fehleranalyseverfahren sollen Simulationen von funktionierenden und fehlerhaften Halbleitern die Datengrundlage aus realen Messergebnissen stark erweitern und so die KI-basierte Fehleranalyse ermöglichen.

Verbund: Zuverlässige Mikroelektronik durch KI-basierte Fehleranalyse Quelle: Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF) Redaktion: DLR Projektträger Länder / Organisationen: Tschechische Republik Frankreich Schweden Themen: Förderung Information u. Kommunikation

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