Nanopartikel zeichnen sich durch besondere Eigenschaften wie erhöhte chemische Reaktivität sowie spezifische optische und elektronische Merkmale aus und sind daher unverzichtbar für zahlreiche Technologien und Produkte, etwa in Batterien, Solarzellen und der medizinischen Diagnostik. Bisher fehlen jedoch etablierte Methoden, um die Oberflächenchemie von Nanopartikeln zu messen. Die Oberfläche beeinflusst die Löslichkeit, Stabilität und die Tendenz von Nanopartikeln, größere Partikelverbunde zu bilden. Diese Faktoren sind entscheidend für die Funktionalität, Sicherheit und Regulierbarkeit von Nanopartikeln in verschiedenen Anwendungen.
Im Projekt SMURFnano entwickelt und validiert die BAM Methoden und Referenzmaterialien zur Messung der Funktion und Beschichtung von Nanopartikeln. Diese Verfahren sind wichtig für die Forschung und industrielle Qualitätskontrolle. Durch die Schaffung internationaler Standards und einfacher sowie kostengünstiger Analysemethoden soll das Vertrauen in Nanoprodukte gestärkt und deren sichere Nutzung weltweit gefördert werden.
Im Projekt arbeiten führende Forschungseinrichtungen und Unternehmen aus Europa zusammen, darunter das Forschungsinstitut RI.SE (Schweden), das Nationale Institut für Metrologische Forschung (INRiM, Italien), das National Physical Laboratory (UK), das Jozef Stefan Institute (Slowenien), die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Deutschland), die Freie Universität Berlin (Deutschland), die Universität Wien (Österreich) sowie weitere internationale Partner. Das Projekt wird im Rahmen der Europäischen Partnerschaft für Metrologie mit 982.000 EUR gefördert.
Um das im Projekt erworbene Wissen zu teilen, bietet die BAM Online-Seminare und Workshops an. Über das Kompetenzzentrum Nano@BAM und die BAM-Akademie können Interessierte darüber hinaus Einblicke in verschiedene Messmethoden erhalten.
Zum Nachlesen
- Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (05.11.2024): BAM entwickelt neue Standards für die Oberflächenanalyse von Nanopartikeln
