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Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung koordiniert EU-Projekt zu neuen Standards für die Oberflächenanalyse von Nanopartikeln

Internationalisierung Deutschlands, Bi-/Multilaterales

Die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) entwickelt in einem neuen EU-Projekt standardisierte Messverfahren zur Untersuchung der Oberflächen von Nanopartikeln. Ziel ist es, die Funktionalität und Sicherheit von Nanopartikeln weiter zu verbessern.

Nanopartikel zeichnen sich durch besondere Eigenschaften wie erhöhte chemische Reaktivität sowie spezifische optische und elektronische Merkmale aus und sind daher unverzichtbar für zahlreiche Technologien und Produkte, etwa in Batterien, Solarzellen und der medizinischen Diagnostik. Bisher fehlen jedoch etablierte Methoden, um die Oberflächenchemie von Nanopartikeln zu messen. Die Oberfläche beeinflusst die Löslichkeit, Stabilität und die Tendenz von Nanopartikeln, größere Partikelverbunde zu bilden. Diese Faktoren sind entscheidend für die Funktionalität, Sicherheit und Regulierbarkeit von Nanopartikeln in verschiedenen Anwendungen.

Im Projekt SMURFnano entwickelt und validiert die BAM Methoden und Referenzmaterialien zur Messung der Funktion und Beschichtung von Nanopartikeln. Diese Verfahren sind wichtig für die Forschung und industrielle Qualitätskontrolle. Durch die Schaffung internationaler Standards und einfacher sowie kostengünstiger Analysemethoden soll das Vertrauen in Nanoprodukte gestärkt und deren sichere Nutzung weltweit gefördert werden.

Im Projekt arbeiten führende Forschungseinrichtungen und Unternehmen aus Europa zusammen, darunter das Forschungsinstitut RI.SE (Schweden), das Nationale Institut für Metrologische Forschung (INRiM, Italien), das National Physical Laboratory (UK), das Jozef Stefan Institute (Slowenien), die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Deutschland), die Freie Universität Berlin (Deutschland), die Universität Wien (Österreich) sowie weitere internationale Partner. Das Projekt wird im Rahmen der Europäischen Partnerschaft für Metrologie mit 982.000 EUR gefördert.

Um das im Projekt erworbene Wissen zu teilen, bietet die BAM Online-Seminare und Workshops an. Über das Kompetenzzentrum Nano@BAM und die BAM-Akademie können Interessierte darüber hinaus Einblicke in verschiedene Messmethoden erhalten.

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Quelle: Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Redaktion: von Julia Arning, VDI Technologiezentrum GmbH Länder / Organisationen: Kanada Italien Österreich Schweden Slowenien Vereinigtes Königreich (Großbritannien) EU Themen: Förderung Physik. u. chem. Techn.

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