StartseiteFörderungProjekteVerbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Effiziente Verifikation der Zuverlässigkeit im Entwurf integrierter Schaltkreise

Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Effiziente Verifikation der Zuverlässigkeit im Entwurf integrierter Schaltkreise

Laufzeit: 01.05.2020 - 31.10.2023 Förderkennzeichen: 16MEE0083S
Koordinator: Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen (IIS) - Institutsteil Entwicklung Adaptiver Systeme EAS

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der Miniaturisierung wird Zuverlässigkeit zu einer immer größeren Herausforderung sowohl auf Bauelement als auch auf Systemebene und führt zu extremen Anforderungen für künftige komplexe Anwendungen. In iRel40 kooperieren 79 Partner aus 14 europäischen Ländern in 6 technischen Arbeitspaketen (AP) entlang der Wertschöpfungskette Chip-Package-Board/System, 25 Partner davon in Deutschland. FhG IIS/EAS wird in diesem Projekt vorrangig die Entwicklung zuverlässiger elektronischer Systeme durch erweiterte Ansätze zur Verifikation im IC-Entwurf unterstützen. Insbesondere soll die bestehende Lücke zwischen den Möglichkeiten der Entwurfssoftware und dem Bedarf seitens der Elektronikentwickler geschlossen werden.

Verbund: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen Quelle: Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF) Redaktion: DLR Projektträger Länder / Organisationen: Österreich Belgien Spanien Finnland Frankreich Griechenland Italien Niederlande Portugal Slowakei Slowenien Schweden Türkei Themen: Förderung Information u. Kommunikation

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