Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Schadgastests 4.0: Beschleunigte Alterung von Leistungshalbleitern und Materialien unter Schadgasatmosphäre und Spannung

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der Miniaturisierung wird Zuverlässigkeit zu einer immer größeren Herausforderung sowohl auf Bauelement als auch auf Systemebene und führt zu extremen Anforderungen für künftige komplexe Anwendungen. In iRel40 kooperieren 79 Partner aus 14 europäischen Ländern in 6 technischen Arbeitspaketen (AP) entlang der Wertschöpfungskette Chip-Package-Board/System, 19 Partner davon in Deutschland. Im Projekt wird der Fokus der Universität Bremen auf dem applikationsnahen Testen von Halbleiterbauelementen und dazugehörigen Materialen liegen. Konkret wird das Verhalten der Bauelemente bzw. Materialen unter korrosiven Umwelteinflüssen (Schadgas, Feuchte, Temperatur) und Spannung untersucht und Rückschlüsse auf die Lebensdauer gezogen. Auf Basis bekannter Lebensdauermodelle werden Prüfszenarien abgeleitet und eine Testumgebung entwickelt. Durch Tests von Bauelementen, Materialproben und speziellen Teststrukturen werden Ausfallmechanismen abgeleitet und ein Beschleunigungsmodell aus den gewonnenen Daten berechnet. Durch Überlagerung der Ergebnisse mit realen Umweltbedingungen werden Prüfszenarien bestimmt.