Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der Miniaturisierung wird Zuverlässigkeit zu einer immer größeren Herausforderung sowohl auf Bauelement als auch auf Systemebene und führt zu extremen Anforderungen für künftige komplexe Anwendungen. In iRel40 kooperieren 79 Partner aus 14 europäischen Ländern in 6 technischen Arbeitspaketen (AP) entlang der Wertschöpfungskette Chip-Package-Board/System, 19 Partner davon in Deutschland. Das Fraunhofer IMS ist hierbei mit der Entwicklung einer zuverlässigen Prozess-Architektur für integrierte optische Sensoren (LiDAR-Detektoren) und der Entwicklung eines automatischen Wafertests mit optischer Stimulation beteiligt.
Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Zuverlässigkeit von optischen Sensoren am Beispiel eines LiDAR-Detektors
Laufzeit:
01.05.2020
- 31.10.2023
Förderkennzeichen: 16MEE0088
Koordinator: Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme (IMS)
Verbund:
Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen
Quelle:
Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF)
Redaktion:
DLR Projektträger
Länder / Organisationen:
Österreich
Belgien
Spanien
Finnland
Frankreich
Griechenland
Italien
Niederlande
Portugal
Slowakei
Slowenien
Schweden
Türkei
Themen:
Förderung
Information u. Kommunikation
Weitere Informationen
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