Verbundprojekt: RESilient Integrated SysTemsWork areas - RESIST -; Teilvorhaben: Modellierung von ESD/TVS-Belastungen und effektives Co-Design zum Schutz von Systemen und Komponenten in der Automobilelektronik

NXP wird sich der Aufgabe stellen, Konzepte für zuverlässigen ESD-Schutz und EMC-Filterkonzepte in der Automobilelektronik zusammen mit den Projektpartnern zu erforschen und auszuarbeiten. Hierbei wird das Augenmerk darauf gelegt, dass die ESD-Komponenten unter den oben genannten extremen Umweltbedingungen zuverlässig und dauerhaft funktionieren. Diese Aktivität unterteilt sich in verschiedene Unteraufgaben, da Untersuchungen der notwendigen Technologien erforderlich sind, um einen erfolgreichen Schutz der anvisierten Schutzlösung zu gewährleisten. Bei den Unteraufgaben handelt es sich im ersten Schritt um die Erforschung von ESD- und EMC-Schutzlösungen für robuste widerstandsfähige Systeme unter Aussetzung der oben genannten harschen Umweltbedingungen. Dabei wird eine Modellierung der Schutzbauelemente des zu schützenden Schaltkreises durchgeführt. In einem zweiten Schritt wird das Verhaltens der Schutzbauelemente während der erwarteten Störwellenformen und die Ermittlung der resultierenden Wellenform, die die zu schützenden Komponenten ausgesetzt sind, simuliert. Die Ergebnisse werden mit (very fast) TLP Messungen verglichen, um die Modelle zu kalibrieren. ein finaler Test des entwickelten Modells an Hand eines Prototypensystems verifiziert seine Validität. Als weitere Aktivität soll über eine neue Methodik die Robustheit der einzelnen Halbleiterbau-elemente selber, die in der Applikation Verwendung finden, erhöht werden.