Konzipierung, Entwicklung und Validierung von Diagnose-Algorithmen mit Künstlicher Intelligenz (KI), neuen Analyse-Methoden und komplexen Software- und Hardware Lösungen als Prototypen zum verbesserten Assessment der Zuverlässigkeit von Signalübertragungen und Lötverbindungen bei tief im Design eingebetteten Strukturen durch elektrischen Tests per On-Chip Instrumentierung, sowie durch röntgentechnische Diagnostik auf Basis von Automated X-Ray Inspektion (AXI).
Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Erforschung und Entwicklung neuer Algorithmen, Methoden und Werkzeugen zur Zuverlässigkeitsbestimmung von eingebetteten Verbindungs-Strukturen auf Board und Systemebene
Laufzeit:
01.05.2020
- 31.10.2023
Förderkennzeichen: 16MEE0090T
Koordinator: GÖPEL electronic GmbH
Verbund:
Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen
Quelle:
Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF)
Redaktion:
DLR Projektträger
Länder / Organisationen:
Österreich
Belgien
Spanien
Finnland
Frankreich
Griechenland
Italien
Niederlande
Portugal
Slowakei
Slowenien
Schweden
Türkei
Themen:
Förderung
Information u. Kommunikation
Weitere Informationen
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