Verbundprojekt: Intelligente Zuverlässigkeit von Elektroniksystemen - iRel40 -; Teilvorhaben: Robuste Produktion und alterungssensibler Entwurf für verschiedenste Anwendungen und Mission Profiles durch Zuverlässigkeit4.0

Das ECSEL JU Projekt "Intelligent Reliability 4.0 (iRel40)" hat das übergeordnete Ziel, die Zuverlässigkeit von elektronischen Komponenten und Systemen durch Reduzierung der Fehlerrate entlang der Wertschöpfungskette zu verbessern. Aufgrund der Miniaturisierung wird Zuverlässigkeit zu einer immer größeren Herausforderung sowohl auf Bauelement als auch auf Systemebene und führt zu extremen Anforderungen für künftige komplexe Anwendungen. In iRel40 kooperieren 79 Partner aus 14 europäischen Ländern in 6 technischen Arbeitspaketen (AP) entlang der Wertschöpfungskette Chip-Package-Board/System, 19 Partner davon in Deutschland. X-FAB wird in iRel40 verbesserte Lebensdauervorhersagen für integrierte Bauelemente erarbeiten, durch vertieftes Verständnis von Fehlermechanismen. Die gewonnenen Erkenntnisse werden in ein bestehendes Werkzeug für Kunden eingepflegt, um schnelle und präzise Robustheitsvalidierung für in X-FAB Technologien entworfene Produkte durchführen zu können. Zusätzlich soll für Kunden ein weiteres, in Entwurfsumgebungen eingebettetes Werkzeug zur Alterungsanalyse bereitgestellt werden, um die Lücke zwischen dem bestehenden Werkzeug und Alterungssimulationen zu schließen. iRel40 ermöglicht es X-FAB und seinen Kunden auch in Zukunft mit Erfolg hochzuverlässige Anwendungen anzubieten.